IE200M是一款專為材料微觀分析設計的高性能儀器，廣泛應用于金屬、合金、陶瓷、地質礦物等領域的金相組織觀察與分析。其倒置式設計突破傳統正置顯微鏡的局限，支持大尺寸、重載樣品的檢測，尤其適合工廠實驗室和科研場

二、核心結構與技術特點

1. 光學系統

• 有限遠色差校正系統：確保高分辨率成像，物鏡與目鏡組合優化，減少色差，提升圖像清晰度

• 落射柯拉照明：配備可變孔徑光闌和中心可調視場光闌，支持LED或鹵素燈照明，光強連續可調，適應不同樣品需求

2. 調焦與載物臺

• 低手位粗微調同軸機構：粗調行程38mm，微調精度0.002mm，操作便捷且穩定性高

• 大尺寸機械移動平臺：180×155mm載物臺，行程75mm×40mm，支持右手位控制，適合高效樣品定位

3. 觀察與成像

• 三目觀察筒：45°傾斜設計，瞳距調節范圍54-75mm，分光比80:20，支持目視觀察與攝像同步

• 攝像擴展：兼容0.5X/1X攝像接筒、C型接口，可連接數碼相機或金相分析軟件，實現圖像采集與分析

三、關鍵參數

四、應用場景

1. 材料分析：金屬熱處理組織檢測、鑄件質量鑒定、半導體硅晶片缺陷分析

2. 科研教學：高校金相實驗、地質巖相研究、生物醫學微觀結構觀察